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作者:吳彥慶(Yen-Ching Wu) 薄膜漏電流行為及其對堆疊閘極式快閃記憶體可靠性的影響
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作者:吳彥慶(Yen-Ching Wu) 薄膜漏電流行為及其對堆疊閘極式快閃記憶體可靠性的影響
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